新標(biāo)準(zhǔn)像質(zhì)計(jì) X射線探傷配件

一、產(chǎn)品簡介：·像質(zhì)計(jì)能測定射線底片的靈敏度，根據(jù)在底片上顯示的像質(zhì)計(jì)的影像，可以判斷底片影像的質(zhì)量，并可評(píng)定透照技術(shù)、膠片暗室處理情況、缺陷檢驗(yàn)?zāi)芰Φ取?i class="br" style="-webkit-tap-highlight-color: rgba(0, 0, 0, 0); box-sizing: border-box; display: block;">·像質(zhì)計(jì)通常用與被檢工件材質(zhì)相同或?qū)ι渚€吸收性能相似的材料制作。·像質(zhì)計(jì)中設(shè)有一些人為的有厚度差的結(jié)構(gòu)如槽、孔、金屬絲等，其尺寸與被檢工件厚度有一定關(guān)系。·射線底片上的線型像質(zhì)計(jì)影像可以作為一種性的證據(jù)，表明射線透照檢測是在適當(dāng)條件下進(jìn)行的，但線型像質(zhì)計(jì)的指示數(shù)值并不等于被檢工件中可以發(fā)現(xiàn)的自然缺陷的實(shí)際尺寸。二、技術(shù)參數(shù)·符合NB/T 47013-2015國家標(biāo)準(zhǔn)·規(guī)格：等徑6～16號(hào)